«Современные методы и инструменты патентной аналитики»

10 сентября 2018 г. в Центре поддержки технологий и инноваций состоялась очередная тематическая встреча по теме: «Современные методы и инструменты патентной аналитики». Модератором выступил О. В. Ена, советник директора ФИПС.

В онлайн-встрече принимали участие начальник центра перспективных технологий ФИПС Н. В. Попов, заместитель начальника центра А. В. Лаенко, аналитики Ф. А. Батанов и Н. А. Поварова. Были рассмотрены вопросы развития продуктов и сервисов по патентной аналитике, представлена практика проектного офиса ФИПС по технологическому и бизнес-консалтингу на базе патентной аналитики. Участниками от Алтайского края стали представители научной и производственной сферы (БСКБ «Восток», АлтГУ, АлтГТУ, «Алтайвагон», НПФ «ЛёнАгро», Алтайская сельскохозяйственная корпорация). Кроме ЦПТИ Алтайской краевой библиотеки им. В. Я. Шишкова во встрече активно участвовали специалисты Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого.

«Современные методы и инструменты патентной аналитики»
«Современные методы и инструменты патентной аналитики»
«Современные методы и инструменты патентной аналитики»
«Современные методы и инструменты патентной аналитики»

© 2006 - 2021 Алтайская краевая универсальная научная библиотека им. В. Я. Шишкова
При цитировании документа ссылка на сайт с указанием автора обязательна. Полное заимствование документа является нарушением российского и международного законодательства и возможно только с согласия Администрации АКУНБ им. В. Я. Шишкова.
Ваши вопросы по сайту и Электронному каталогу ждем на oa_akunb@mail.ru.

Яндекс.Метрика Система Orphus
X